经营范围：TSI Inc.为全球范围内的客户提供测量难题的调研、确认以及解决方案服务。作为精密测量仪器的设计和生产的领军企业，美国TSI公司协同各个研究机构以及世界各地的客户为很多学科的测量仪器制定标准，美国TSI公司其中包括：气溶胶科学、气流、室内空气质量，风速计，尘埃粒子计数器、流体动力学以及生化危险品等。位于美国境内的公司总部以及遍布欧亚的地方办事处使得TSI遍布世界的每一个角落。每**，我们专注的员工都在将研究成果变成现实。
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技术文章
空气动力学粒径谱仪 APS-3321,XRD、TEM、AFM分别如何表征晶粒粒径?日期：2024-02-27 浏览量：
核心提示：
X射线衍射（XRD）、透射电子显微镜（TEM）和原子力显微镜（AFM）是常用的材料表征技术，可以用来表征晶粒的粒径。它们各自有不同的原理和方法来实现晶粒粒径的表征： X射线衍射（XRD）： ● XRD是一种通过材料对X射线的衍射模式来分析晶体结构的技术。晶体的晶格间距与衍射角度之间存在一定的关系，通过测量XRD图谱中的衍射峰位置和强度，可以确定晶体的晶格参数和结构信息。 ● 对于晶粒粒径的表征，XRD可以通过Scherrer公式来估算晶粒尺寸： 其中，D为晶粒尺寸，K为形状因子（通常取0.9），λ为X射线波长，β为XRD图谱中的半峰宽，θ为衍射角。通过测量XRD图谱中的半峰宽，可以计算出晶粒的尺寸。 透射电子显微镜（TEM）： ● TEM是一种高分辨率的显微镜，可以通过透射电子的方式观察材料的微观结构。在TEM中，通过透射电子成像，可以直接观察到晶体的晶粒形貌和尺寸。 ● TEM可以直接测量晶粒的尺寸，并且可以实现高分辨率的观察。通过对TEM图像中晶粒的测量和分析，可以得到晶粒的尺寸分布等信息。 原子力显微镜（AFM）： ● AFM是一种通过探针扫描表面来获取表面形貌和性质的显微镜技术。AFM可以实现纳米尺度的表面形貌测量，对于测量晶粒的尺寸也具有一定的应用。 ● 在AFM中，通过扫描晶体表面，可以获取晶体的表面形貌信息，包括晶粒的尺寸、形状等。通过对AFM图像的分析，可以得到晶粒的尺寸参数。 综上所述，XRD、TEM和AFM是常用的表征晶粒粒径的技术，它们各自具有不同的优势和适用范围。研究人员可以根据具体的研究目的和样品特性选择合适的技术来表征晶粒的粒径。 空气动力学粒径谱仪 APS-3321空气动力学粒径谱仪 (APS™) 3321提供从 0.5-20μm高分辨率，实时的空气动力学粒径测量。这种独特的粒径谱仪利用光散射强度可以同时测量 0.37-20μm的等效光学粒径。通过为每个粒子提供两种不同的数据，APS™粒径谱仪为那些对气溶胶组成感兴趣的人员打开了令人振奋的新认识。  TSI 空气动力学粒径谱仪 3321 型 |
