经营范围：TSI Inc.为全球范围内的客户提供测量难题的调研、确认以及解决方案服务。作为精密测量仪器的设计和生产的领军企业，美国TSI公司协同各个研究机构以及世界各地的客户为很多学科的测量仪器制定标准，美国TSI公司其中包括：气溶胶科学、气流、室内空气质量，风速计，尘埃粒子计数器、流体动力学以及生化危险品等。位于美国境内的公司总部以及遍布欧亚的地方办事处使得TSI遍布世界的每一个角落。每**，我们专注的员工都在将研究成果变成现实。
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APS空气动力学粒径谱仪,XRD、TEM、AFM三种粒径表征方式！日期：2024-02-26 浏览量：
核心提示：
XRD（X射线衍射）、TEM（透射电子显微镜）和AFM（原子力显微镜）是常用的粒径表征方法，它们可以用来研究颗粒物质的结构和粒径大小。 XRD（X射线衍射） X射线衍射是一种通过测量材料对X射线的衍射图案来确定晶体结构的方法。在粒径表征中，XRD可以用来分析颗粒物质的晶体结构和晶粒大小。通过XRD分析，可以得到颗粒物质的晶格参数、晶体结构、晶粒大小等信息。 TEM（透射电子显微镜） TEM是一种高分辨率的显微镜，可以通过透射电子图像来观察颗粒物质的微观结构。在粒径表征中，TEM可以直接观察颗粒的形貌、大小和分布情况，可以获取到颗粒的形貌信息和尺寸分布。 AFM（原子力显微镜） AFM是一种高分辨率的显微镜，可以通过扫描探针来测量样品表面的微观形貌和力学性质。在粒径表征中，AFM可以用来测量颗粒的高度、直径和形貌，可以获取到颗粒的表面形貌和尺寸信息。 这三种粒径表征方法各有优势和适用范围，可以结合使用以获得更全面的颗粒物质信息。 APS空气动力学粒径谱仪空气动力学粒径谱仪 (APS™) 3321提供从 0.5-20μm高分辨率，实时的空气动力学粒径测量。这种独特的粒径谱仪利用光散射强度可以同时测量 0.37-20μm的等效光学粒径。通过为每个粒子提供两种不同的数据，APS™粒径谱仪为那些对气溶胶组成感兴趣的人员打开了令人振奋的新认识。  空气动力学粒径谱仪 3321 |
