TSI APS3321,动态光散射法测定粒径的影响因素

动态光散射法（Dynamic Light Scattering，DLS）是一种常用的粒径分析技朧，用于测定颗粒或分子的尺寸分布。在使用DLS进行粒径测定时，有一些影响因素需要考虑，包括：

颗粒浓度对DLS测量结果有显著影响。高浓度样品会导致多重散射效应，使得测量结果不准确。因此，在进行DLS测量时，需要根据样品的浓度选择合适的稀释倍数，以确保测量结果的准确性。

颗粒的形状也会影响DLS测量结果。对于非球形颗粒，DLS测量结果可能会存在一定的偏差。通常情况下，DLS适用于球形颗粒的粒径测定，对于非球形颗粒，可能需要结合其他技术进行综合分析。

溶剂的性质会影响DLS测量的准确性。不同溶剂的折射率、粘度等参数会影响光的散射特性，从而影响测量结果。在进行DLS测量时，需要选择合适的溶剂，并了解其对测量结果的影响。

温度对DLS测量结果也有一定影响。温度的变化会影响颗粒的运动速度，从而影响测量结果。在进行DLS测量时，通常需要控制好温度，并记录温度变化对测量结果的影响。

DLS测量时使用的散射角度也会对测量结果产生影响。不同的散射角度会导致不同的散射强度，从而影响粒径测量的准确性。通常情况下，选择合适的散射角度可以获得更准确的测量结果。

DLS仪器的性能也会对测量结果产生影响。仪器的分辨率、灵敏度、稳定性等参数会影响测量的准确性和可靠性。因此，在进行DLS测量时，需要保证仪器的性能稳定，并进行仪器校准和验证。

综合考虑以上因素，并根据具体样品的特性和测量要求，可以有效地进行DLS粒径测量，获得准确可靠的粒径数据。在实际应用中，需要对这些影响因素进行充分考虑，并进行实验验证和数据分析，以确保DLS测量结果的准确性和可靠性。

TSI APS3321空气动力学粒径谱仪 (APS™) 3321提供从 0.5-20μm高分辨率，实时的空气动力学粒径测量。这种独特的粒径谱仪利用光散射强度可以同时测量 0.37-20μm的等效光学粒径。通过为每个粒子提供两种不同的数据，APS™粒径谱仪为那些对气溶胶组成感兴趣的人员打开了令人振奋的新认识。